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追光小課堂｜光伏測試踩坑指南：電容特性的判斷方法與應(yīng)對策略

更新時間：2025-09-11點擊次數(shù)：46



通過 IV測試動態(tài)響應(yīng)分析定性/半定量評估容性強度


01
雙向掃描遲滯分析（推薦）




  • 步驟：

  • 單次閃光內(nèi)完成 正向掃（Isc→Voc）和 反向掃（Voc→Isc），掃描速度≥10 V/s。

  • 對比兩條曲線差異，計算 遲滯環(huán)面積（如圖示紅區(qū)）：

圖片2.png


  • 判斷標(biāo)準(zhǔn)

  • 遲滯環(huán)面積越大 → 電容效應(yīng)越強（如HJT電池達常規(guī)電池5-10倍）；

  • Pmax位置偏移量（|Pmax_fwd - Pmax_rev|）>1% → 高容性電池。


02
掃描速度依賴性測試




  • 步驟：同一電池在0.01 V/s（慢速）至50 V/s（快速）下多次掃描，觀察Pmax附近曲線形態(tài)。


  • 畸變類型與容性關(guān)聯(lián)：

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03
暗態(tài)IV掃描診斷




  • 方法：黑暗條件下快速掃描正向偏壓（0→Voc）。


  • 特征：低電壓區(qū)出現(xiàn)電流遲滯 → 擴散電容主導(dǎo)（載流子壽命短）。





消除電容影響的I-V測試方案




針對高容性電池（如HJT/鈣鈦礦），結(jié)合 設(shè)備優(yōu)化 與 算法補償。


01
硬件級解決方案




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02
算法級補償方案




  • 三段式掃描法

圖片3.png

  • 分區(qū)策略：

    Isc/Voc附近：高速掃描（節(jié)省時間）

    Pmax區(qū)域：低速掃描（dV/dt↓ → 電容電流↓）

  • 效果：總耗時不變，Pmax誤差降低>70%。


  • 雙向掃描融合算法

圖片4.png

  • 公式：Pmax_corrected = k·Pmax_fwd + (1-k)·Pmax_rev （k為遲滯權(quán)重因子）

  • 關(guān)鍵：需通過穩(wěn)態(tài)標(biāo)定優(yōu)化k值，非簡單平均。%。


  • SAT/IAT算法（德雷射科核心技術(shù)）

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03
操作規(guī)范




  • 脈寬光源要求：

  • 脈寬≥100 ms（容性電池需200-500 ms）

  • 光譜穩(wěn)定性AM1.5G±5%（避免光譜失配干擾）


  • 溫度控制：25±1℃（溫度漂移1℃導(dǎo)致Voc漂移0.4%）


04
總結(jié)：容性影響解決路徑




圖片5.png





應(yīng)用建議




  • 研發(fā)場景：穩(wěn)態(tài)模擬器 + SAT算法 → 精度優(yōu)先；

  • 產(chǎn)線場景：脈沖光源 + IAT算法 → 效率與精度平衡；

  • HJT/鈣鈦礦：強制使用雙向掃描融合算法，Pmax誤差可控至<0.5%。


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